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半導(dǎo)體高溫老化柜
添加時間：2025.07.05
半導(dǎo)體老化柜（Burn-in Chamber）是用于對半導(dǎo)體器件（如集成電路、芯片、LED等）進(jìn)行老化測試（Burn-in Test）的專業(yè)設(shè)備。其核心目的是通過模擬高溫、高電壓、高負(fù)載等嚴(yán)苛條件，加速潛在缺陷的暴露，篩選出早期失效產(chǎn)品，確保器件的可靠性和穩(wěn)定性。
主要功能與特點
溫度控制
高溫老化：通常溫度范圍在室溫至150℃以上（部分可達(dá)200℃），通過恒溫或循環(huán)溫度變化加速老化。
精準(zhǔn)控溫：采用PID算法或更先進(jìn)的溫控系統(tǒng)，確保溫度均勻性（±1~2℃以內(nèi)）。
電氣負(fù)載
提供動態(tài)或靜態(tài)的電信號（電壓/電流），模擬實際工作狀態(tài)。
支持多通道并行測試，可同時對大量器件施加不同負(fù)載。
環(huán)境模擬
可選濕度控制（如85%RH）、氣壓調(diào)節(jié)（用于功率器件老化）。
部分設(shè)備支持氣體環(huán)境控制（如氮氣保護(hù)）。
自動化與監(jiān)控
集成數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)（DAQ），實時監(jiān)測電流、電壓、溫度等參數(shù)。
軟件自動記錄失效數(shù)據(jù)，支持統(tǒng)計分析（如Weibull分布）。
安全防護(hù)
過流/過壓保護(hù)、煙霧報警、緊急斷電功能。
防靜電設(shè)計（ESD Protection）。
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